Annonce
Video teaser: GOM 3D metrology Conference 2017
Tag med Zebicon til GOM 3D metrology Conference den 26.-27. september 2017.
Den internationale konference byder på to spændende dage med fokus på 3D prøvning og 3D metrologi. Her mødes eksperter, måleteknikere og ledere fra 40 lande for at lære om optisk måleteknologi.
Programmet for konferencen står på brugerindlæg, produktpræsentationer, tekniske udstillinger og networking.
Deltagerne har også mulighed for at få en guidet rundvisning i GOMs domicil og få indblik i produktionen af måleteknisk udstyr.
Arrangementet er gratis og afholdes ved GOM i Braunschweig, Tyskland. Du kan læse mere om konferencen og tilmelde dig på www.gom-conference.com